產品資料
日本 位相差橢圓偏振測量儀
產品名稱: 日本 位相差橢圓偏振測量儀
產品型號: KOBRA-HB 系列
產品特點: 日本 位相差橢圓偏振測量儀，是新一代高精度光學測量設備。采用 LED 光源與優化光學系統，實現 2nm~20000nm 超寬位相差測量范圍，搭配超高精度方位角與位相差檢測，支持橢圓偏振光分析，全系列覆蓋從基礎位相差檢測到全光譜分光測量，廣泛應用于顯示、半導體、光學薄膜等行業的品質檢測與研發。
日本 位相差橢圓偏振測量儀 的詳細介紹
日本 位相差橢圓偏振測量儀
日本 位相差橢圓偏振測量儀
核心技術與性能優勢
KOBRA-HB 系列基于王子計測的偏振光測量技術，相比傳統 W 系列，在光學系統上進行了全面升級：
超寬量程覆蓋：突破傳統設備量程限制，從 2nm 以下的超低位相差到 20000nm 的超高位相差，一臺設備滿足全場景測量需求
LED 光源革命：采用長壽命 LED 光源，告別傳統汞燈的定期更換，設備維護成本大幅降低，同時提升測量穩定性
精度全面提升：方位角分辨率提升至 0.001°，位相差重復性提升 3 倍以上，確保測量數據的精準性與長期一致性
緊湊型設計：在不損失性能的前提下，設備體積大幅縮小，適配實驗室空間緊張的場景
全場景測量能力
位相差檢測：精準測量光學薄膜、塑料、玻璃的雙折射與內應力，為材料品質管控提供數據支撐
橢圓偏振分析：HBPR 型號可完成橢圓偏振光測量，精準計算薄膜厚度、折射率等光學參數，適配半導體、光學涂層行業
分光測量：SPC 型號支持 400~800nm 全光譜分光測量，可分析樣品的光譜特性，適配復雜多層膜結構分析
斜入射測量：支持 30~40° 斜入射測量，適配偏光片等特殊樣品的檢測需求
操作與維護
設備配套專業分析軟件，操作界面直觀，可一鍵生成測量報告；全自動化測量流程，無需專業培訓即可快速上手。LED 光源設計使設備維護成本極低，僅需定期清潔光學窗口，即可保證長期穩定運行，適配 24 小時連續檢測需求。
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產品目錄
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