產(chǎn)品資料
半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀
產(chǎn)品名稱: 半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀
產(chǎn)品型號: FAC-2
產(chǎn)品特點: 半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀日本理研（Riken Keiki）FAC-2 是一款“大氣環(huán)境中用即速費米能級測量儀"，采用開爾文（Kelvin）探針法，可在 10 秒內(nèi)完成一次測量，無需抽真空，也無需精確調(diào)整探針-樣品間距，適合半導體、金屬薄膜、催化劑等表面費米能級（功函數(shù)）的現(xiàn)場快速評價。1. 核心規(guī)格測量方式：開爾文法（振動電容法）能量范圍：3.4–6.2 eV（以功函數(shù) 5
半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀 的詳細介紹
半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀
半導體金屬薄膜現(xiàn)場快速評價費米能級測量儀
日本理研（Riken Keiki）FAC-2 是一款“大氣環(huán)境中用即速費米能級測量儀"，采用開爾文（Kelvin）探針法，可在 10 秒內(nèi)完成一次測量，無需抽真空，也無需精確調(diào)整探針-樣品間距，適合半導體、金屬薄膜、催化劑等表面費米能級（功函數(shù)）的現(xiàn)場快速評價。
1. 核心規(guī)格
- 測量方式：開爾文法（振動電容法）
- 能量范圍：3.4–6.2 eV（以功函數(shù) 5 eV 的金標樣校準時）
- 重復再現(xiàn)性：≤ ±0.02 eV（標準偏差）
- 單次測量時間：≤ 10 s（金屬樣品典型值）
- 有效測試面積：φ10 mm
- 樣品形態(tài)：塊體、薄膜、粉末均可；大 30 mm × 30 mm，厚度無特殊限制
- 測量環(huán)境：大氣（10–35 °C，≤ 60 %RH），無需真空或惰性氣體保護
2. 系統(tǒng)構(gòu)成
- 主機：內(nèi)置振動探針、鎖相放大器、能級掃描光源及控制電路
- 參考電極：鍍金不銹鋼探針，可單獨更換
- 軟件：實時顯示費米能級（eV）及功函數(shù)變化曲線，可導出 CSV
- 數(shù)據(jù)存儲：內(nèi)置 1 000 組測量值，支持 USB 閃存拷貝
3. 典型應用
- 半導體晶圓、太陽能電池、FET 器件的表面費米能級分布測繪
- 金屬/氧化物催化劑在反應前后的功函數(shù)變化追蹤
- 剛成膜后金屬表面隨時間氧化的原位監(jiān)測
- 材料界面接觸電位差（CPD）與腐蝕電位關(guān)聯(lián)研究
4. 安裝與維護
- 供電：AC 100 V 50/60 Hz，功率約 30 W
- 外形/重量：235 × 330 × 408 mm（W×H×D，顯微鏡臂收起時），約 12 kg
- 年度校準：使用附帶金標樣進行兩點校準（5.0 eV 與 4.2 eV），無需返廠
- 耗材：探針壽命 > 5 000 次，臟污可用無水乙醇棉簽輕擦
相關(guān)產(chǎn)品
產(chǎn)品目錄
-
儀器儀表
- 溶解氧測定儀
- 透過率計
- 電源
- 恒溫器
- 蝶閥
- 熔點儀
- 圧力計
- pH計
- 電阻測試儀
- 密封試驗儀
- 余氯測定儀
- 流速儀
- 抵抗計
- 絕緣電阻計
- 噪聲計
- 深度計
- 記錄儀
- 記錄器
- 溫度儀
- 氣體檢測儀
- 熱電偶
- 粉塵儀
- 磁通計
- 角度計
- 加振器
- 探傷儀
- 氧氣計
- 計量泵
- 尺子測量
- 測量儀
- 密度計
- 馬弗爐
- 恒溫槽
- 壓縮機
- 離心泵
- 螺桿泵
- 葉片泵
- 柱塞泵
- 蠕動泵
- 定量泵
- 隔膜泵
- 酸堿度計
- 濁度計
- 電導率儀
- 鹽分計
- 檢測儀
- 監(jiān)測儀
- 色度計
- 分光輻射計
- 差壓計
- 壓力表
- 料位計
- 電平計
- 比重計
- 流速計
- 工業(yè)內(nèi)窺鏡
- 扭矩計
- 應力計
- 檢查器
- 檢針器
- 溫度計
- 摩擦計
- 放大鏡
- 粒度儀
- 篩分儀
- 試験機
- 測定儀
- 露點儀
- 電氣爐
- 轉(zhuǎn)速表
- 水分計
- 濃度計
- 流量計
- 物位計
- 測厚儀
- 硬度計
- 光纖測定器
- 水分活性測定
- 熱風計
- 數(shù)字照度計
- 風速計
- 實體顯微鏡
- 環(huán)境測定計
- 躁聲計
- 真空計
- 液位計
- 高斯計
- 控制閥
- 壓力計
- 噴嘴類
- 泵類
聯(lián)系我們
在線客服