日本東京電色（Tokyo Denshoku）薄膜測量分光色差計TC-1800MKⅢ是一種專門用于測量薄膜材料的分光色差計。該設(shè)備采用了分光光柵和雙光束交照方式，這使得其掃描性能

。此外，該設(shè)備還利用了反饋回路技術(shù)，從而確保了其測量的穩(wěn)定性和。操作方面，TC-1800MKⅢ采用了單觸式操作，使得用戶操作十分簡便。此外，該設(shè)備在多臺機器間的臺間差控制上也表現(xiàn)出色，平均ΔE值在0.25以內(nèi)，這表明了其高精度和一致性。總的來說，TC-1800MKⅢ是一款性能操作簡便、測量穩(wěn)定的薄膜材料分光色差計。

用于測量薄膜材料的分光色差計。該設(shè)備采用了分光光柵和雙光束交照方式，這使得其掃描性能